ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Dapatkan Penawaran
描述
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Indonesian
Vietnamese
Persian
Polish
描述
Rumah
Kategori
Peralatan Pelapisan Optik
Peralatan Pengujian Optik
Substrat Photomask
Sistem Pengukuran Birefringence
Elemen Optik
Peralatan Deposisi Lapisan Atom
Mesin Pelapis Magnetron Sputtering
Peralatan Deteksi Cacat Permukaan
Mesin Finishing Magnetorheologi
Peralatan Inspeksi Kerataan
Peralatan Inspeksi Permukaan
Peralatan Non Standar
Solusi Lini Produksi Otomatis
Sistem Interferometer Laser
Autokolimator Digital
Lensa Interferometer
Produk
resources
Berita
Tentang kita
Profil Perusahaan
Wisata pabrik
Kontrol kualitas
Hubungi kami
Hasil pencarian (7)
Rumah
-
Produk
-
mask substrate surface defect detection produsen online
Peralatan Deteksi Cacat Permukaan Substrat Masker Debu Goresan OEM
Peralatan Deteksi Cacat Permukaan Substrat Kaca 1.8um
Peralatan Deteksi Cacat Permukaan Dua Sumbu OEM X Y Di Industri Semikonduktor
Goresan Debu Inspeksi Peralatan Deteksi Cacat Permukaan Di Industri Chip IC
Goresan Debu Peralatan Deteksi Permukaan Semikonduktor Resolusi 1,8μM
Sistem Detektor Permukaan Semikonduktor Peralatan Pengujian Optik 40x
Scratches Dusts Optical Testing Equipment Detektor Permukaan Semikonduktor 1.8μM
Total 1 Halaman
